光电微弯传感器是利用光电中的微弯损耗来探测外界物理量的变化。它利用多模光电在收到微弯时,一部分芯模能量会转化为包层模能量这一原理,通过测试包层模能量或芯模能量的变化来测量位移或振动等。
通常,光电微弯传感器的实验装置包括:氦-氖激光束经扩束、聚焦输入多模光电。其中的非导引模由杂模滤除器去掉,然后在变形器件作用下产生位移。光电发生微弯的程度不同时,转化为包层模式的能力也随之改变。位移的直流分量由数字毫伏表读出,其交流分量则经锁相放大器由X-Y记录仪记录;变形器由测微头调整至某一恒定变形量;待测的交变位移由压电陶瓷变换给出。
实验表明,该装置灵敏度达到0.6uV/A,相当于适合小可测位移为0.01nm,动态范围可望超过110dB。这种传感器很容易推广到对压力、水声等量的测量。